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Estado de Minas

Comunicado do Business Wire :JEOL Ltd.


postado em 14/02/2020 13:49

JEOL Ltd. (TOKYO: 6951) (Presidente e Diretor de Operações Izumi Oi) anuncia o lançamento de um novo microscópio eletrônico de análise atômica de resolução atômica, JEM-ARM300F2 (GRAND ARM(TM)2), a ser lançado em fevereiro de 2020.

Este comunicado de imprensa inclui multimédia. Veja o comunicado completo aqui: https://www.businesswire.com/news/home/20200214005390/pt/

JEM-ARM300F2 (Photo: Business Wire)

Histórico do desenvolvimento do produto

Na microscopia eletrônica, um grande número de microscopistas e engenheiros continuaram buscando a melhoria da resolução. Enquanto isso, a JEOL tem feito esforços para melhorar a estabilidade do microscópio eletrônico de transmissão (MET). Combinando tecnologias de correção de aberrações com esses esforços, alcançamos com sucesso uma resolução extremamente alta.

O JEM-ARM300F (GRAND ARM(TM)) é um MET de resolução atômica focado em obter a melhor resolução da categoria. Mas as demandas pelo MET moderno incluem a caracterização não apenas de materiais duros, mas também de materiais macios. Nessas circunstâncias, os usuários de MET solicitam resolução e análise aprimoradas com maior grau de precisão.

A JEOL desenvolveu um novo MET, o JEM-ARM300F2 (GRAND ARM(TM)2), que atende a essas solicitações. Esse MET analítico de resolução atômica ultra-alta possui muitos recursos. Em particular, com uma nova peça de lente objetiva, "PCF2", o GRAND ARM(TM)2 alcança uma combinação ideal de imagens de alta resolução atômica com alta qualidade, juntamente com a melhor análise elementar EDS de grande ângulo sólido da classe.

A configuração padrão do GRAND ARM(TM)2 inclui um gabinete que mitiga distúrbios externos, levando a uma maior estabilidade do instrumento.

Principais recursos

1. Uma combinação ideal de resolução espacial ultra-alta com análise de raios X de alta sensibilidade. Os recursos da recém-desenvolvida objetiva de lente objetiva PCF2 são os seguintes: 1) Comparado com a PCF anterior, a PCF2 fornece maior eficiência de detecção com raio-X (1,4sr), mais do que o dobro da PCF. 2) Um baixo coeficiente óptico, baixo coeficiente de Cc e baixo coeficiente de Cs permitem que a resolução espacial ultra-alta e a análise de raios X de alta sensibilidade sejam realizadas em uma variedade de tensões de aceleração. (Resolução STEM garantida: 53pm em 300kV, 96pm em 80kV)* *É quando o Corretor de abertura de trajetória de expansão STEM (ATE) é configurado.

2. O pólo largo de espaço livre (Wide Gap Polepiece, WGP) da lente objetiva permite análises de raios X de sensibilidade ultra-alta. Esta peça ocular, com um amplo espaço entre o polo superior e o polo inferior, possui as seguintes vantagens: 1) O WGP permite SDDs de área grande (detectores de desvio de silício) a serem aproximados da amostra, obtendo uma análise de raios X de sensibilidade ultra-alta (ângulo total de 2,2sr). 2) O WGP acomoda suportes de amostras mais grossos, permitindo vários tipos de experimentos in situ.

3. Os corretores de aberração esférica (Cs) desenvolvidos pela JEOL são integrados à coluna do microscópio e fornecem resolução espacial ultra-alta. 1) Combinado com a PCF2, o GRAND ARM (TM)2 atinge uma resolução STEM de 53pm a 300kV. 2) Combinado com o WGP, o GRAND ARM (TM)2 alcança uma resolução STEM de 59pm a 300kV. 3) O JEOL COSMO(TM) (Módulo do sistema corretor) possibilita executar a correção de aberrações de maneira rápida e fácil.

4. Uma pistola de emissão de campo frio (Cold-FEG) é fornecida como padrão. O GRAND ARM(TM)2 é equipado com um Cold-FEG que fornece uma menor propagação de energia da fonte de elétrons.

5. Um gabinete que mitiga distúrbios externos. Este novo gabinete é padrão para reduzir distúrbios externos, como fluxo de ar, mudanças de temperatura ambiente e ruído acústico.

Especificações principais

-0- *T Resolução garantida Imagem HAADF-STEM: 53pm (com corretor ATE e PCF2) Pistola eletrônica: Pistola de emissão de campo frio (Cold-FEG) Tensão de aceleração Padrão: 300kV e 80kV Espectrômetro de raios-X de energia dispersiva SDD de área ampla (158 mm2): Detectores duplos são possíveis Ângulo sólido: 1,4sr (com PCF2) *T

Meta anual de vendas unitária

10 unidades/ano

JEOL Ltd. 3-1-2, Musashino, Akishima, Tóquio, 196-8558, Japão Izumi Oi, Presidente e Diretor de Operações (Código de ações: 6951, primeira seção da Bolsa de Valores de Tóquio) www.jeol.com

O texto no idioma original deste anúncio é a versão oficial autorizada. As traduções são fornecidas apenas como uma facilidade e devem se referir ao texto no idioma original, que é a única versão do texto que tem efeito legal.

Ver a versão original em businesswire.com: https://www.businesswire.com/news/home/20200214005390/pt/

JEOL Ltd. Divisão de vendas de instrumentos de medição e ciência Hideya Ueno +81-3-6262-3567 https://www.jeol.co.jp/en/support/support_system/contact_products.html

© 2020 Business Wire, Inc. Aviso: Este documento não é de autoria da AFP e a AFP não pode se responsabilizar por seu conteúdo. Para esclarecer qualquer dúvida sobre o conteúdo, por favor, contate as pessoas/empresas indicadas neste comunicado de imprensa.


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