A Rigaku Corporation, parceira global em soluções de sistemas analíticos de raios X e empresa do grupo Rigaku Holdings Corporation (sede: Akishima, Tóquio; CEO: Jun Kawakami; doravante “Rigaku”), anunciou o lançamento do ONYX 3200, um novo sistema de metrologia de semicondutores para medir a espessura, a composição e as estruturas de bumps* em processos de nível de wafer. O sistema foi projetado para ajudar os fabricantes a estabilizar a qualidade e aumentar o rendimento nos processos de formação de fios metálicos (back-end-of-line - BEOL) e de encapsulamento de chips semicondutores.

Este comunicado de imprensa inclui multimédia. Veja o comunicado completo aqui: https://www.businesswire.com/news/home/20251216241287/pt/

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Contato para a imprensa:

Sawa Himeno

Diretor do Departamento de Comunicações da Rigaku Holdings Corporation

prad@rigaku.co.jp


Fonte: BUSINESS WIRE
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