A JEOL Ltd. (TOKYO: 6951) (Presidente e COO Izumi Oi) anuncia o lançamento de um novo microscópio eletrônico de varredura (scanning electron microscope, SEM), o JSM-IT700HR, para uma produtividade sem precedentes, em agosto de 2020.
Este comunicado de imprensa inclui multimédia. Veja o comunicado completo aqui: https://www.businesswire.com/news/home/20200803005626/pt/
Note: The photo of the instrument is JSM-IT700HR/LA. (Photo: Business Wire)
Histórico do desenvolvimento
Os microscópios eletrônicos de varredura são utilizados em diversas áreas, entre elas, nanotecnologia, metais, semicondutores, cerâmica, medicina e biologia. Além disso, os aplicativos SEM estão se expandindo para incluir controle de qualidade e pesquisa básica. As demandas estão aumentando para aquisição mais rápida de dados de imagens SEM de alta qualidade e para confirmação mais fácil de informações composicionais.
Baseado no premiado antecessor dos SEMs da série "InTouchScope?", o JSM-IT700HR está equipado com a nossa pistola de elétrons com emissão de campo (FEG) Schottky nas lentes . Este novo SEM poderoso atende às necessidades de observação e análise de outros materiais miniaturizados na operação diária do laboratório.
O JSM-IT700HR fornece uma alta resolução de 1 nm e uma corrente máxima de sonda de 300 nA (15 vezes mais que a anterior), fornecendo uma riqueza de informações de observação e análise. Uma interface de usuário simples de operar, o design compacto que acomoda uma grande câmara de amostras, com um suporte antivibratório renovado para o console principal, proporcionam observação e análise mais confortáveis do que antes.
Para aprimorar a "operação simples", o JSM-IT700HR incorpora uma nova função, integrada na SEM GUI, para exibir a profundidade característica da geração de raios-X. Isso suporta o entendimento imediato da profundidade da análise (referência) da amostra, o que é útil para a análise elementar.
Estão disponíveis duas configurações: 1) JSM-IT700HR / LV para observação de imagens de alto e baixo vácuo, 2) JSM-IT700HR / LA com sistema JEOL EDS integrado adicional.
Características
-- A pistola de elétrons de emissão de campo Schottky na lente permite observação de imagens em alta definição e análise de alta resolução espacial.
-- A função Zeromag, que vincula imagens de gráficos de suporte, CCD e SEM, facilita a navegação de amostras mais do que nunca.
-- Com a nossa "série analítica" (função Live Analysis), o sistema EDS integrado exibe um espectro EDS em tempo real durante a observação da imagem, para uma análise de elementos eficiente.
-- Uma nova função para exibir a profundidade da análise (profundidade característica de geração de raios-X) suporta análises elementares rápidas.
-- O SMILE VIEW? Lab, que permite o gerenciamento integrado de dados de imagem e análise, facilita a geração de relatórios para todos os dados, desde imagens SEM coletadas até resultados de análises elementares.
-- O "Specimen Exchange Navi" permite a troca simples e segura de amostras.
-- Com a função de alinhamento automático de feixe, as condições ópticas eletrônicas são sempre mantidas ideais.
-- O "sistema de troca de extração" permite fácil acesso à grande câmara de amostra, que acomoda vários tamanhos e tipos de amostra
Meta de vendas
130 unidades/ano (ano inicial)
URL: https://www.jeol.co.jp/en/products/detail/JSM-IT700HR.html
JEOL Ltd. 3-1-2, Musashino, Akishima, Tóquio, 196-8558, Japão Izumi Oi, Presidente e Diretor de Operações (Código de ações: 6951, primeira seção da Bolsa de Valores de Tóquio) www.jeol.com
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